Применение EXAFS для определения фазового состава полупроводниковых наносистем, приготовленных TVD методом - Conference attendances | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Применение EXAFS для определения фазового состава полупроводниковых наносистем, приготовленных TVD методом Conference attendances

Language

Русский

Participant type

Стендовый

Conference

II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов»
28-28 Oct 2014 , Казань

Authors

Кривенцов В.В. ¹ , Валеев Р.Г. ² , Бельтюков А.Н. ² , Якимчук Е.П. ¹ , Хорев А.Г. ¹ , Нечепуренко С.Ф. ¹ , Максимовский Е.А. ¹ , Морозова Н.Б. ¹ , Новгородов Б.Н. ¹ , Мезенцев Н.А. ³

Affiliations

1	Boreskov Institute of Catalysis SB RAS
2	Physical-Technical Institute UB RAS
3	Budker Institute of Nuclear Physics SB RAS

Кривенцов В.В. , Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Якимчук Е.П. , Хорев А.Г. , Нечепуренко С.Ф. , Максимовский Е.А. , Морозова Н.Б. , Новгородов Б.Н. , Мезенцев Н.А.
Применение EXAFS для определения фазового состава полупроводниковых наносистем, приготовленных TVD методом
II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов» 28-28 окт. 2014