Исследование функциональных наноматериалов методом XAFS спектроскопии (K, L3 - края): применение и методические особенности выполненых работ на станции EXAFS Спектроскопии СЦСТИ - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

Исследование функциональных наноматериалов методом XAFS спектроскопии (K, L3 - края): применение и методические особенности выполненых работ на станции EXAFS Спектроскопии СЦСТИ Доклады на конференциях

Язык

Русский

Тип доклада

Пленарный

Конференция

XI Всероссийская школа-конференция молодых ученых «КоМУ-2018»
15-19 окт. 2018 , Ижевск

Авторы

Кривенцов Владимир Владимирович ¹

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН

Кривенцов В.В.
Исследование функциональных наноматериалов методом XAFS спектроскопии (K, L3 - края): применение и методические особенности выполненых работ на станции EXAFS Спектроскопии СЦСТИ
XI Всероссийская школа-конференция молодых ученых «КоМУ-2018» 15-19 окт. 2018