Исследование функциональных наноматериалов методом XAFS спектроскопии (K, L3 - края): применение и методические особенности выполненых работ на станции EXAFS Спектроскопии СЦСТИ - Conference attendances | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Исследование функциональных наноматериалов методом XAFS спектроскопии (K, L3 - края): применение и методические особенности выполненых работ на станции EXAFS Спектроскопии СЦСТИ Conference attendances

Language

Русский

Participant type

Пленарный

Conference

XI Всероссийская школа-конференция молодых ученых «КоМУ-2018»
15-19 Oct 2018 , Ижевск

Authors

Kriventsov Vladimir Vladimirovich ¹

Affiliations

1	Boreskov Institute of Catalysis SB RAS

Кривенцов В.В.
Исследование функциональных наноматериалов методом XAFS спектроскопии (K, L3 - края): применение и методические особенности выполненых работ на станции EXAFS Спектроскопии СЦСТИ
XI Всероссийская школа-конференция молодых ученых «КоМУ-2018» 15-19 окт. 2018