Реферат: В заявленной работе, на примере исследований, проведенных на станции EXAFS спектроскопии (СЦТСИ, Новосибирск), рассмотрены аппаратурные и методические особенности. Для широкого ряда наноразмерных систем показаны возможности XAFS спектроскопии, как самостоятельного метода, так и в комплексе с другими физическими методами исследования.

Библиографическая ссылка: Кривенцов В.В.
Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии СЦСТИ
XXIII Всероссийская конференция (с международным участием) «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 01-04 окт. 2019