Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии СЦСТИ - Conference attendances | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии СЦСТИ Conference attendances

Language

Русский

Participant type

Устный

Conference

XXIII Всероссийская конференция (с международным участием) «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь»
01-04 Oct 2019 , Воронеж

Authors

Kriventsov Vladimir Vladimirovich ¹

Affiliations

1	Boreskov Institute of Catalysis SB RAS

В заявленной работе, на примере исследований, проведенных на станции EXAFS спектроскопии (СЦТСИ, Новосибирск), рассмотрены аппаратурные и методические особенности. Для широкого ряда наноразмерных систем показаны возможности XAFS спектроскопии, как самостоятельного метода, так и в комплексе с другими физическими методами исследования.

Кривенцов В.В.
Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии СЦСТИ
XXIII Всероссийская конференция (с международным участием) «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 01-04 окт. 2019