Структурный и микроструктурный анализ ультрадисперсных и частично разупорядоченных материалов с применением моделирования рентгеновской дифракции на дефектных кристаллах Conference Abstracts
Conference |
Химия под знаком СИГМА: Исследования, Инновации, Технологии : IV Всероссийская научная молодежная школа‐конференция 12-18 May 2014 , Омск |
||||
---|---|---|---|---|---|
Source | Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. Тезисы докладов IV Всероссийской научной молодежной школы-конференции Compilation, ИППУ СО РАН. Омск.2014. 380 c. ISBN 9785906376053. РИНЦ |
||||
Output data | Year: 2014, Article number : ПЛ -8, Pages count : 2 | ||||
Authors |
|
||||
Affiliations |
|
Cite:
Черепанова С.В.
Структурный и микроструктурный анализ ультрадисперсных и частично разупорядоченных материалов с применением моделирования рентгеновской дифракции на дефектных кристаллах
In compilation Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. Тезисы докладов IV Всероссийской научной молодежной школы-конференции. – ИППУ СО РАН., 2014. – C.21-22. – ISBN 9785906376053.
Структурный и микроструктурный анализ ультрадисперсных и частично разупорядоченных материалов с применением моделирования рентгеновской дифракции на дефектных кристаллах
In compilation Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. Тезисы докладов IV Всероссийской научной молодежной школы-конференции. – ИППУ СО РАН., 2014. – C.21-22. – ISBN 9785906376053.
Identifiers:
No identifiers
Citing:
Пока нет цитирований