Исследование искажений кристаллической решетки в эпитаксиальных наноструктурах Full article
Conference |
2 Национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов 23-27 May 1999 , Москва |
||||
---|---|---|---|---|---|
Journal |
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN: 1028-0960 , E-ISSN: 0207-3528 |
||||
Output data | Year: 2000, Number: 9, Pages: 64-68 Pages count : 5 | ||||
Authors |
|
||||
Affiliations |
|
Cite:
Василенко А.П.
, Колесников А.В.
, Никитенко С.Г.
, Ревенко М.А.
, Соколов Л.В.
, Федоров А.А.
, Труханов Е.М.
Исследование искажений кристаллической решетки в эпитаксиальных наноструктурах
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2000. №9. С.64-68. РИНЦ
Исследование искажений кристаллической решетки в эпитаксиальных наноструктурах
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2000. №9. С.64-68. РИНЦ
Translated:
Vasilenko A.P.
, Kolesnikov A.V.
, Nikitenko S.G.
, Revenko M.A.
, Sokolov L.V.
, Fedorov A.A.
, Trukhanov E.M.
Distortions of the Crystal Lattice in Epitaxial Nanostructures
Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2001. V.16. N9. P.1455-1462. Scopus РИНЦ
Distortions of the Crystal Lattice in Epitaxial Nanostructures
Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2001. V.16. N9. P.1455-1462. Scopus РИНЦ
Dates:
Submitted: | Oct 12, 1999 |
Published print: | Sep 1, 2000 |
Identifiers:
Elibrary | 47561980 |
Chemical Abstracts | 2000:854712 |
Chemical Abstracts (print) | 134:139761 |
Citing:
Пока нет цитирований