Электронно-микроскопическое исследование структуры тонких иридиевых пленок, полученных методом химического осаждения из газовой фазы Full article
Journal |
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN: 1028-0960 , E-ISSN: 0207-3528 |
||||
---|---|---|---|---|---|
Output data | Year: 1994, Number: 5, Pages: 50-57 Pages count : 8 | ||||
Authors |
|
||||
Affiliations |
|
Cite:
Гельфонд Н.В.
, Зайковский В.И.
, Игуменов И.К.
Электронно-микроскопическое исследование структуры тонких иридиевых пленок, полученных методом химического осаждения из газовой фазы
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1994. №5. С.50-57. РИНЦ
Электронно-микроскопическое исследование структуры тонких иридиевых пленок, полученных методом химического осаждения из газовой фазы
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1994. №5. С.50-57. РИНЦ
Dates:
Submitted: | May 5, 1993 |
Accepted: | Jun 22, 1993 |
Identifiers:
Elibrary | 41113148 |
Chemical Abstracts | 1994:618021 |
Chemical Abstracts (print) | 121:218021 |
Citing:
DB | Citing |
---|---|
Elibrary | 8 |