Sciact
  • EN
  • RU

Методика ИСП-АЭС анализа кремния с микроволновым разложением и концентрированием Full article

Journal Журнал аналитической химии
ISSN: 0044-4502
Output data Year: 2015, Volume: 70, Number: 1, Pages: 26-29 Pages count : 4 DOI: 10.7868/S004445021501017X
Tags атомно-эмиссионный спектральный анализ, индуктивно связанная плазма, высокочистый кремний, многоэлементный анализ, концентрирование примесей, пределы обнаружения.
Authors Шаверина А.В. 1 , Цыганкова А.Р. 1,2 , Сапрыкин А.И. 1,2
Affiliations
1 Институт неорганической химии им. А.В. Николаева Сибирского отделения Российской академии наук 630090 Новосибирск, просп. Акад. Лаврентьева, 3
2 Новосибирский национальный исследовательский государственный университет 630090 Новосибирск, ул. Пирогова, 2

Abstract: Разработана комбинированная методика анализа высокочистого кремния с предварительным парофазным разложением и концентрированием в микроволновой печи на основе метода атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ИСП-АЭС). Сконструированы и изготовлены вкладыши для автоклавов микроволновой печи, позволяющие одновременно отгонять основу 3–4 проб без их контакта с раствором кислот. Методика позволяет определять до 30 элементов: Ag, Al, Be, Bi, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, Hf, In, K, Li, Mn, Mo, Na, Nb, Ni, P, Rb, Sb, Sn, Sr, Ta, V, W, Zn, Zr с пределами обнаружения 10-8 10-6 мас. %.
Cite: Шаверина А.В. , Цыганкова А.Р. , Сапрыкин А.И.
Методика ИСП-АЭС анализа кремния с микроволновым разложением и концентрированием
Журнал аналитической химии. 2015. Т.70. №1. С.26-29. DOI: 10.7868/S004445021501017X РИНЦ OpenAlex
Translated: Shaverina A.V. , Tsygankova A.R. , Saprykin A.I.
A Procedure of ICP-AES Analysis of Silicon Using Microwave Digestion and Preconcentration
Journal of Analytical Chemistry. 2015. V.70. N1. P.28-31. DOI: 10.1134/S1061934815010153 WOS Scopus РИНЦ ANCAN OpenAlex
Dates:
Submitted: Oct 8, 2013
Identifiers:
Elibrary: 22778203
OpenAlex: W2318224335
Citing:
DB Citing
OpenAlex 4
Altmetrics: