Sciact
  • EN
  • RU

Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоёв высокодисперсных материалов Тезисы доклада

Конференция Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 1-ая Всероссийская научная конференция
11-16 окт. 2009 , Новосибирск
Сборник 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", МИССФМ-2009, Новосибирск, 11-16 октября 2009 г.
Сборник, ИК СО РАН. Новосибирск.2009. 426 c. РИНЦ
Вых. Данные Год: 2009, Номер статьи : КД-2-2, Страниц : 1
Авторы Иванов В.П. 1
Организации
1 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, 630090 Новосибирск, пр. акад. Лаврентьева 5
Библиографическая ссылка: Иванов В.П.
Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоёв высокодисперсных материалов
В сборнике 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", МИССФМ-2009, Новосибирск, 11-16 октября 2009 г.. – ИК СО РАН., 2009. – C.62.
Идентификаторы БД: Нет идентификаторов
Цитирование в БД: Пока нет цитирований