Sciact
  • EN
  • RU

Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоёв высокодисперсных материалов Conference Abstracts

Conference Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 1-ая Всероссийская научная конференция
11-16 Oct 2009 , Новосибирск
Source 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", МИССФМ-2009, Новосибирск, 11-16 октября 2009 г.
Compilation, ИК СО РАН. Новосибирск.2009. 426 c. РИНЦ
Output data Year: 2009, Article number : КД-2-2, Pages count : 1
Authors Иванов В.П. 1
Affiliations
1 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, 630090 Новосибирск, пр. акад. Лаврентьева 5
Cite: Иванов В.П.
Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоёв высокодисперсных материалов
In compilation 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", МИССФМ-2009, Новосибирск, 11-16 октября 2009 г.. – ИК СО РАН., 2009. – C.62.
Identifiers: No identifiers
Citing: Пока нет цитирований