Sciact
  • EN
  • RU

A Study of the Structure of (HfO2 ) x (Al2 O3)1−x /Si Films by X-Ray Photoelectron Spectroscopy Научная публикация

Журнал Journal of Structural Chemistry
ISSN: 0022-4766 , E-ISSN: 1573-8779
Вых. Данные Год: 2011, Том: 52, Номер: 3, Страницы: 480-487 Страниц : 8 DOI: 10.1134/S002247661103005X
Ключевые слова Alumina, Binary solution, Hafnium aluminate, Hafnium dioxide, Layer-by-layer analysis, X-ray photoelectron spectroscopy
Авторы Kaichev V.V. 1 , Dubinin Yu.V. 1 , Smirnova T.P. 2 , Lebedev M.S. 2
Организации
1 G. K. Boreskov Institute of Catalysis, Siberian Division, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk
2 A. V. Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Division, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk

Информация о финансировании (1)

1 Сибирское отделение Российской академии наук 70

Реферат: By X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), using the technique of layer-by-layer analysis, the films of (HfO2) x (Al2O3)1−x solid solutions synthesized by chemical vapor deposition are studied. The possibility to determine the structure of solid binary solutions based on the analysis of the XPS spectra is demonstrated.
Библиографическая ссылка: Kaichev V.V. , Dubinin Y.V. , Smirnova T.P. , Lebedev M.S.
A Study of the Structure of (HfO2 ) x (Al2 O3)1−x /Si Films by X-Ray Photoelectron Spectroscopy
Journal of Structural Chemistry. 2011. V.52. N3. P.480-487. DOI: 10.1134/S002247661103005X WOS Scopus РИНЦ OpenAlex CAPlusCA
Оригинальная: Каичев В.В. , Дубинин Ю.В. , Смирнова Т.П. , Лебедев М.С.
Изучение структуры пленок (HfO2)x(Al2O3)1–x/Si методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Журнал структурной химии. 2011. Т.52. №3. С.495-502. РИНЦ RSCI
Даты:
Поступила в редакцию: 5 мар. 2010 г.
Опубликована в печати: 1 июн. 2011 г.
Опубликована online: 29 июл. 2011 г.
Идентификаторы БД:
≡ Web of science: WOS:000294860200005
≡ Scopus: 2-s2.0-80054764488
≡ РИНЦ: 18009920
≡ OpenAlex: W2040937254
≡ Chemical Abstracts: 2011:947680
≡ Chemical Abstracts (print): 155:601881
Цитирование в БД:
≡ Web of science 12 Сбор данных от 13.02.2026
≡ Scopus 12 Сбор данных от 15.02.2026
≡ РИНЦ 12 Сбор данных от 15.02.2026
≡ OpenAlex 12 Сбор данных от 15.02.2026
Альметрики: