Rapid Method for Separating the Structure-Sensitive Portion of Intensity in X-ray-Diffractometry Научная публикация
Журнал |
Industrial Laboratory
ISSN: 0019-8447 |
||
---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 1995, Том: 61, Номер: 2, Страницы: 88-91 Страниц : 4 | ||
Ключевые слова | Diffraction | ||
Авторы |
|
||
Организации |
|
Реферат:
A method for constructing the radial distribution function (RDF) from x-ray diffraction data is proposed. The method is based on high-frequency filtration of the total intensity to obtain its structure-sensitive portion, using cubic B-splines and the least-squares technique to approximate the background function and Compton scattering. The method makes unnecessary the use of a crystal monochromator and shortens substantially the time for an experiment.
Библиографическая ссылка:
Kolosov P.E.
Rapid Method for Separating the Structure-Sensitive Portion of Intensity in X-ray-Diffractometry
Industrial Laboratory. 1995. V.61. N2. P.88-91. WOS
Rapid Method for Separating the Structure-Sensitive Portion of Intensity in X-ray-Diffractometry
Industrial Laboratory. 1995. V.61. N2. P.88-91. WOS
Оригинальная:
Колосов П.Е.
Экспресс-методика выделения структурно-чувствительной части интенсивности в методе рентгенографии
Заводская лаборатория (до 1995 г.). 1995. Т.61. №2. С.27-30.
Экспресс-методика выделения структурно-чувствительной части интенсивности в методе рентгенографии
Заводская лаборатория (до 1995 г.). 1995. Т.61. №2. С.27-30.
Даты:
Опубликована в печати: | 1 февр. 1995 г. |
Идентификаторы БД:
Web of science | WOS:A1995TC23200008 |
Цитирование в БД:
БД | Цитирований |
---|---|
Web of science | 1 |