Sciact
  • EN
  • RU

Формирование анодных слоёв на InAs(111). III. Исследование химического состава. Full article

Journal Физика и техника полупроводников
ISSN: 0015-3222
Output data Year: 2012, Volume: 46, Number: 4, Pages: 569-575 Pages count : 6
Authors Валишева Н.А. 1 , Терещенко О.Е. 1,3 , Просвирин И.П. 2 , Калинкин А.В. 2 , Голяшов В.А. 3 , Левцова Т.А. 1 , Бухтияров В.И. 2
Affiliations
1 Институт физики полупроводников им А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, 630090 Новосибирск, Россия
2 Институт катализа им Г.К. Борескова Сибирского отделения Российской академии наук, 630090 Новосибирск, Россия
3 Новосибирский государственный университет, 603090 Новосибирск, Россия

Funding (1)

1 Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences 99

Abstract: Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии изучен химический состав анодных слоев (толщиной  20 нм), выращенных на InAs(111)A в щелочном и кислотном электролитах, не содержащих и содержащих NH4F. Показано, что состав фторсодержащих слоев определяется соотношением концентраций ионов фтора и гидроксилов в электролите, а также процессами диффузии, протекающими в растущем слое. Фтор накапливается на границе раздела анодный слой/InAs. Окисление InAs в кислотном электролите с низкой концентрацией кислорода и высокой концентрацией NH4F приводит к формированию анодных слоев с высоким содержанием фтора, элементного мышьяка и образованию бескислородной границы раздела InFx /InAs. Фторсодержащие слои, выращенные в щелочном электролите с высокой концентрацией O2− и(или) OH−-групп, содержат примерно в 3 раза меньше фтора и состоят из оксифторидов
Cite: Валишева Н.А. , Терещенко О.Е. , Просвирин И.П. , Калинкин А.В. , Голяшов В.А. , Левцова Т.А. , Бухтияров В.И.
Формирование анодных слоёв на InAs(111). III. Исследование химического состава.
Физика и техника полупроводников. 2012. Т.46. №4. С.569-575. РИНЦ
Translated: Valisheva N.A. , Tereshchenko O.E. , Prosvirin I.P. , Kalinkin A.V. , Goljashov V.A. , Levtzova T.A. , Bukhtiyarov V.I.
Formation of Anodic Layers on InAs (111)III. Study of the Chemical Composition
Semiconductors. 2012. V.46. N4. P.552-558. DOI: 10.1134/S1063782612040239 WOS Scopus РИНЦ ANCAN OpenAlex
Dates:
Submitted: Aug 25, 2011
Accepted: Oct 3, 2011
Identifiers:
Elibrary: 20319147
Citing:
DB Citing
Elibrary 4