Sciact
  • EN
  • RU

АЭС-ИСП анализ высокочистого кремния Full article

Journal Заводская лаборатория. Диагностика материалов
ISSN: 1028-6861
Output data Year: 2012, Volume: 78, Number: 4, Pages: 9-13 Pages count : 5
Tags высокочистый кремний, концентрирование примесей, пределы обнаружения примесей, многоэлементность
Authors Шаверина А.В. 1 , Цыганкова А.Р. 2 , Шелпакова И.Р. 2 , Сапрыкин А.И. 2
Affiliations
1 Учреждение Российской академии наук Институт неорганической химии им. А.А. Николаева СО РАН
2 Новосибирский государственный университет

Funding (1)

1 Президиум РАН 2

Abstract: Описана АЭС-ИСП методика анализа высокочистого кремния, реализуемая на современном стандартном оборудовании и позволяющая определять в кремнии 44 примеси с пределами обнаружения n · 10-8 - n · 10-6 % масс. Методика сопоставлена с гостированной и опубликованными в литературе АЭС-ИСП методиками по количеству определяемых примесей и пределам их обнаружения
Cite: Шаверина А.В. , Цыганкова А.Р. , Шелпакова И.Р. , Сапрыкин А.И.
АЭС-ИСП анализ высокочистого кремния
Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т.78. №4. С.9-13. РИНЦ
Translated: Shaverina A.V. , Tsygankova A.R. , Shelpakova I.R. , Saprykin A.I.
ICP-AES Analysis of High-Purity Silicon
Inorganic Materials. 2013. V.49. N14. P.1283-1287. DOI: 10.1134/S0020168513140082 WOS Scopus РИНЦ ANCAN OpenAlex
Dates:
Submitted: Mar 1, 2011
Identifiers:
Elibrary: 17711026
Citing: Пока нет цитирований