АЭС-ИСП анализ высокочистого кремния Full article
Journal |
Заводская лаборатория. Диагностика материалов
ISSN: 1028-6861 |
||||
---|---|---|---|---|---|
Output data | Year: 2012, Volume: 78, Number: 4, Pages: 9-13 Pages count : 5 | ||||
Tags | высокочистый кремний, концентрирование примесей, пределы обнаружения примесей, многоэлементность | ||||
Authors |
|
||||
Affiliations |
|
Funding (1)
1 | Президиум РАН | 2 |
Abstract:
Описана АЭС-ИСП методика анализа высокочистого кремния, реализуемая на современном стандартном оборудовании и позволяющая определять в кремнии 44 примеси с пределами обнаружения n · 10-8 - n · 10-6 % масс. Методика сопоставлена с гостированной и опубликованными в литературе АЭС-ИСП методиками по количеству определяемых примесей и пределам их обнаружения
Cite:
Шаверина А.В.
, Цыганкова А.Р.
, Шелпакова И.Р.
, Сапрыкин А.И.
АЭС-ИСП анализ высокочистого кремния
Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т.78. №4. С.9-13. РИНЦ
АЭС-ИСП анализ высокочистого кремния
Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т.78. №4. С.9-13. РИНЦ
Translated:
Shaverina A.V.
, Tsygankova A.R.
, Shelpakova I.R.
, Saprykin A.I.
ICP-AES Analysis of High-Purity Silicon
Inorganic Materials. 2013. V.49. N14. P.1283-1287. DOI: 10.1134/S0020168513140082 WOS Scopus РИНЦ ANCAN OpenAlex
ICP-AES Analysis of High-Purity Silicon
Inorganic Materials. 2013. V.49. N14. P.1283-1287. DOI: 10.1134/S0020168513140082 WOS Scopus РИНЦ ANCAN OpenAlex
Dates:
Submitted: | Mar 1, 2011 |
Identifiers:
Elibrary: | 17711026 |
Citing:
Пока нет цитирований