Аморфные диэлектрические пленки SiCNH, полученные методом PECVD из паров гексаметилдисилазана Full article
| Journal |
Журнал структурной химии
ISSN: 0136-7463 |
||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Output data | Year: 2025, Volume: 66, Number: 11, Article number : 155150, Pages count : 17 DOI: 10.26902/JSC_id155150 | ||||||||
| Tags | amorphous SiCNH films,Pecvd,hexamethyldisilazane,dielectric properties,Cu diffusion barrier,Xps,optical emission spectroscopy,аморфные пленки SiCNH,Pecvd,гексаметилдисилазан,диэлектрические свойства,диффузионно-барьерный слой,РФЭС,оптическая эмиссионная спектроскопия | ||||||||
| Authors |
|
||||||||
| Affiliations |
|
Funding (1)
| 1 | Russian Science Foundation | 23-79-00026 (123041400012-0) |
Abstract:
Синтез тонких аморфных пленок гидрогенизированного карбонитрида кремния осуществлялся в реакторе с плазмой ВЧ-разряда с использованием паров гексаметилдисилазана и гелия. Пленки SiC x N y :H различного состава получены путем варьирования температуры подложки и давления прекурсора в реакционной камере. Получены зависимости скорости роста, элементного состава, химического строения пленок, а также показателя преломления и коэффициента диэлектрической проницаемости от условий синтеза. Методом оптической эмиссионной спектроскопии определены компоненты плазмы. Методами ПЭМВР и ЭДС-картирования показано, что отожженный образец Cu/SiCNH/Si(100) имеет четкие границы раздела подложка/пленка и пленка/слой меди, диффузия меди не наблюдается. Тонкие пленки SiCNH с низким значением e можно рассматривать как перспективный диффузионно-барьерный слой для современных микросхем.
Cite:
Ермакова Е.Н.
, Плеханов А.Г.
, Шаяпов В.Р.
, Суляева В.С.
, Максимовский Е.А.
, Петухова Д.Е.
, Сараев А.А.
, Герасимов Е.Ю.
, Кириенко В.В.
, Хомяков М.Н.
, Косинова М.Л.
Аморфные диэлектрические пленки SiCNH, полученные методом PECVD из паров гексаметилдисилазана
Журнал структурной химии. 2025. Т.66. №11. 155150 :1-17. DOI: 10.26902/JSC_id155150 РИНЦ
Аморфные диэлектрические пленки SiCNH, полученные методом PECVD из паров гексаметилдисилазана
Журнал структурной химии. 2025. Т.66. №11. 155150 :1-17. DOI: 10.26902/JSC_id155150 РИНЦ
Translated:
Ermakova E.N.
, Plekhanov A.G.
, Shayapov V.R.
, Sulyaeva V.S.
, Maksimovsky E.A.
, Petukhova D.E.
, Saraev A.A.
, Gerasimov E.Y.
, Kirienko V.V.
, Khomyakov M.N.
, Kosinova M.L.
Amorphous Dielectric SiCNH Films Prepared by PECVD Method from Hexamethyldisilazane Vapors
Journal of Structural Chemistry. 2025. V.66. N11. P.2292–2308. DOI: 10.1134/S0022476625110046
Amorphous Dielectric SiCNH Films Prepared by PECVD Method from Hexamethyldisilazane Vapors
Journal of Structural Chemistry. 2025. V.66. N11. P.2292–2308. DOI: 10.1134/S0022476625110046
Dates:
| Submitted: | Aug 26, 2025 |
| Accepted: | Sep 4, 2025 |
| Published print: | Nov 1, 2025 |
| Published online: | Nov 28, 2025 |
Identifiers:
| Elibrary: | 83257178 |
Citing:
Пока нет цитирований