Sciact
Toggle navigation
  • EN
  • RU

Разделы:

  • Статьи
  • Книги
  • Доклады на конференциях
  • Тезисы докладов
  • Патенты

XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата. Тезисы доклада

Общее Язык: Русский, Жанр: Тезисы доклада (Meeting Abstracts),
Статус опубликования: Опубликована, Оригинальность: Оригинальная
Конференция I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
26-26 сент. 2013 , Казань
Сборник I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
Сборник, Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич. Казань.2013. 146 c. ISBN 9785906217219. РИНЦ
Вых. Данные Год: 2013, Страницы: 50 Страниц : 1
Авторы Кривенцов В.В. 1 , Валеев Р.Г. 2,3 , Бельтюков А.Н. 2,3 , Мухгалин В.В. 2 , Романов Э.А. 2 , Максимовский Е.А. 4 , Якимчук Е.П. 1 , Новгородов Б.Н. 1 , Мезенцев Н.А. 5
Организации
1 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, 630090, г. Новосибирск, пр-т акад. Лаврентьева, 5
2 Физико-технический институт УрО РАН, 426000, г. Ижевск, ул. Кирова, 132
3 Удмуртский государственный университет, 426034, г. Ижевск, ул. Университетская, 1, корп.1
4 Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, 630090, г. Новосибирск, пр-т Лаврентьева, 3
5 Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, 630090, г. Новосибирск, пр-т Лаврентьева, 11
Библиографическая ссылка: Кривенцов В.В. , Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Мухгалин В.В. , Романов Э.А. , Максимовский Е.А. , Якимчук Е.П. , Новгородов Б.Н. , Мезенцев Н.А.
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата.
В сборнике I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.50. – ISBN 9785906217219. РИНЦ
Идентификаторы:
РИНЦ 21366506